OSI Optoelectronics PIN-SPOT2DMI Infrared Photodiode, 65 °, Through Hole TO-18
- RS 제품 번호:
- 183-7155
- 제조사 부품 번호:
- PIN-SPOT2DMI
- 제조업체:
- OSI Optoelectronics
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- RS 제품 번호:
- 183-7155
- 제조사 부품 번호:
- PIN-SPOT2DMI
- 제조업체:
- OSI Optoelectronics
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제정법과 컴플라이언스
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모두 선택 | 제품 정보 | 값 |
|---|---|---|
| 브랜드 | OSI Optoelectronics | |
| Spectrums Detected | Infrared | |
| Product Type | Photodiode | |
| Wavelength of Peak Sensitivity | 970nm | |
| Package Type | TO-18 | |
| Mount Type | Through Hole | |
| Packaging | Tape & Reel | |
| Number of Pins | 3 | |
| Minimum Wavelength Detected | 350nm | |
| Maximum Wavelength Detected | 1100nm | |
| Typical Fall Time | 0.6ns | |
| Amplified | No | |
| Minimum Operating Temperature | -25°C | |
| Maximum Operating Temperature | 85°C | |
| Width | 5mm | |
| Height | 0.14in | |
| Standards/Approvals | RoHS | |
| Length | 4.64mm | |
| Diameter | 5.33mm | |
| Angle of Half Sensitivity | 65 ° | |
| Automotive Standard | No | |
| Polarity | Reverse | |
| Dark Current | 200pA | |
| Typical Rise Time | 11ns | |
| Breakdown Voltage | 30V | |
| Series | Spot | |
| 모두 선택 | ||
|---|---|---|
브랜드 OSI Optoelectronics | ||
Spectrums Detected Infrared | ||
Product Type Photodiode | ||
Wavelength of Peak Sensitivity 970nm | ||
Package Type TO-18 | ||
Mount Type Through Hole | ||
Packaging Tape & Reel | ||
Number of Pins 3 | ||
Minimum Wavelength Detected 350nm | ||
Maximum Wavelength Detected 1100nm | ||
Typical Fall Time 0.6ns | ||
Amplified No | ||
Minimum Operating Temperature -25°C | ||
Maximum Operating Temperature 85°C | ||
Width 5mm | ||
Height 0.14in | ||
Standards/Approvals RoHS | ||
Length 4.64mm | ||
Diameter 5.33mm | ||
Angle of Half Sensitivity 65 ° | ||
Automotive Standard No | ||
Polarity Reverse | ||
Dark Current 200pA | ||
Typical Rise Time 11ns | ||
Breakdown Voltage 30V | ||
Series Spot | ||
- COO (Country of Origin):
- MY
High Accuracy
Excellent Resolution
High-Speed Response
Ultra Low Dark Current
Excellent Response Match
High Stability over Time and Temperature
APPLICATIONS
Machine Tool Alignment
Position Measuring
Beam Centering
Surface Profiling
Targeting
Guidance Systems
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